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                                                    断层扫描分析技术

　 原本不能检测或者非常耗时的和高成本的工件检测，现在可以用断层扫描分析技术快速明确地检测出误差。

　　测量技术的革命

　　Metrotom融合了计量学和层析X射线摄影法，开创了不可预期的可能性。此前只能通过损伤工件进行检测或者无法进行质量保证检测的场合，现在使用蔡司的Metrotom就可以帮忙您实现无损检测并保证高精度的测量结果。

断层扫描分析如同在工件内部测量：所有采集的数据可用于质量保证的范围和进行评估。无损检测技术，例如：装配检查，损伤和气孔分析，材料检验或损坏检查，如同传统的测量评估，逆向工程应用或几何比较一样可行。

　　重要特征

　　METROTOM采用了深思熟虑的设计，它的3D计算机断层扫描分析带有微聚焦X射线管和探测器，同时还装备了用于装夹工件的转台和移动系统。METROTOM还具有安全技术，其全防护的测量间，符合DIN 54113标准的用于结构类型许可全封闭仪器的防护射线条例(0.5mr/h外罩)。同时，它也提供了符合人体工程学的优化设计（特设的上料位置）。

蔡司转台，配有直接驱动 高敏感性的探测系统

　　业界验证的线性技术

• 蔡司的精密机械组件
  
  
• 导轨误差补偿（CAA计算机辅助精度修正）
  
  
• 蔡司原装转台，配有直接驱动
  
  
• 自产的气浮轴承
  
  
• 分辨率：0.036˝
  
  
• 最大负载（中心）：500N
  
  
  

　　传感器：微聚焦X射线管

• 高电压：10 – 225 keV
  
  
• 电子管电流：5 – 3000 μA
  
  
• 目标功率：320 W max.
  
  
• 反射角：50°锥角
  
  
• 速流发射角：30°锥角
  
  
• 焦点尺寸：> 7 μm平板式探测器
  
  
• 带有高敏感性的探测系统
  
  
• 1024 x 1024 像素每 400 μm2用于三维CT
  
  
• 数字式放射性检测法，低失真率